波分复用器厂家浅析多模光纤插入损耗测试的问题

玉炜科技主营波分复用器,CWDM,DWDM,光源光功率计,插回损测试仪,光纤衰减器，MPO跳线等产品，关于多模光纤器件测试时影响插损的主要因素下面由波分复用器厂家小编给大家科普，欢迎咨询洽谈交流！

多模光纤插入损耗的测试在很大程度上取决于测试光源的发射条件。不同的光源会产生不同的发射条件。例如，一个LED光源将以“过满注入(Over fill)”的方式将光注入到光纤内，而一个激光器光源（如VCSEL）将以“欠注入(Under fill)”的方式将光注入到光纤内，如图1所示。波分复用器厂家使用不同发射条件的光源进行多模光纤的插入损耗测试时，由于光源的注入方式不同，将给测试结果带来差异。

当采用LED光源进行测试时，由于光源的发散角大，光源以“过满注入”的方式将多种模式的光注入到光纤内。稳定的低阶模在靠近纤芯中心传输，而不稳定的高阶模在远离纤芯中心甚至在包层中传输。不稳定的高阶模在光纤中传输一段距离后将会消失，因此插入损耗测试结果将比实际值偏大。

当波分复用器厂家采用VCSEL光源进行测试时，由于光源的发散角小，光源以“欠注入”的方式将少量模式的光注入到光纤内。由于光源发射的高阶模数量太少，而且某些故障（例如连接器插头对接时的纤芯错位）无法被检测到，因此插入损耗测试结果将比实际值偏小。在“过满注入”和“欠注入”的发射条件下测试得到的插入损耗结果偏差很可能会高达50%以上。